A 유전 손실 계수 테스터전기 장비 (예 : 변압기, 계측기 변압기, 부싱, 커패시터, 케이블)에서 유전체 손실 계수 (TANΔ) 및 절연 재료 (유전체)의 전공 손실 계수 (TANδ) 및 커패시턴스 (CX)의 전계 측정을 위해 설계된 높은 - 정밀 전자 기기입니다. 핵심 기능은 - 사이트 전력 - 주파수 전자기 간섭을 효과적으로 억제하기 위해 Heterodyne 주파수 기술을 사용하는 것입니다.
주요 개념은 다음과 같습니다.
1. 전기 손실 :
컨덕턴스, 편광 및 부분 방전으로 인한 AC 전기장 하에서 절연 재료의 에너지 손실을 나타냅니다. 이 에너지는 열로 전환됩니다.
유전체 손실을 정량화하기위한 1 차 파라미터는 TANδ ( "탄젠트 델타")로 표시되는 유전 손실 계수입니다. 유전체에서 저항력 손실 대 반응성 용량 성 전력의 비율을 나타냅니다. 더 낮은 tanΔ는 손실이 낮고 단열성 성능이 향상됩니다.
2. 유전 손실 테스트의 목적 :
절연 조건 평가 : Tanδ는 전반적인 절연 노화, 수분 유입 또는 분해에 매우 민감합니다. 열화는 일반적으로 tanΔ를 크게 증가시킵니다.
결함 진단 : 국소 결함 (예 : 부분 방전, 박리, 균열) 또는 분산 결함 (예 : 전체 수분 흡수, 노화)을 감지합니다.
예방 유지 보수 : 장비 시운전 중 중요한 테스트 및 운영 안전을 결정하기위한 일상적인 유지 보수.
3. "Heterodyne"기술 및 필요성 :
문제 : 50Hz/60Hz 전력 주파수와 변전소의 고조파에서 강한 전자기 간섭은 측정을 왜곡하여 전통적인 전력 - 주파수 테스터가 신뢰할 수 없거나 사용할 수 없게 만듭니다.
솔루션 : "Heterodyne"기술은 50Hz/60Hz와는 다른 테스트 주파수를 사용하여이를 해결합니다 (일반적으로 전력 주파수의 정수 배수 근처이지만 고조파 지점을 피하십시오).
일반적인 헤테로 다인 모드 :
듀얼 - 주파수 메소드 (가장 일반적) : 빠른 연속으로 두 개의 별개의 주파수 (예 : 45Hz/55Hz 또는 55Hz/65Hz)에서 자동으로 측정됩니다. 그런 다음 알고리즘은 동등한 전력 - 주파수 tanΔ 및 cx를 계산합니다. 주파수는 일반적으로 전력 주파수 주변에서 대칭입니다.
변수 - 주파수 방법 : 광범위한 범위 (예 : 30Hz – 300Hz) 내에서 최소 노이즈 주파수를 스캔하거나 선택한 다음 결과를 전원으로 변환합니다.
anti - 간섭 원리 :
전력 - 특정 주파수에서의 주파수 간섭 피크 (50Hz, 100Hz, 150Hz ...).
헤테로디런 테스트는 이러한 피크를 피하여 더 조용한 주파수를 선택합니다.
디지털 신호 처리 (예 : 푸리에 변환)는 소음을 억제하면서 테스트 신호를 추출합니다.
듀얼 - 주파수 메소드는 노이즈를 취소하기 위해 가까운 주파수 간의 간섭 상관 관계를 활용합니다.